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微克設備開發出頂針探針荷重阻抗壽命試驗機

更新時間:2019-12-18   點擊次數:1326次

頂針(zhen)探針(zhen)(POGOPIN)是通過自身的彈(dan)性接(jie)觸面以及力(li)度來保證與(yu)電(dian)子產品的有效接(jie)觸。彈(dan)力(li)太小或(huo)太大、接(jie)觸電(dian)阻太大、行(xing)程不符合要求都會對(dui)測試產生影響。所以就需要對(dui)此些數據進(jin)行(xing)檢(jian)測,甚(shen)至于進(jin)行(xing)全檢(jian)

微克檢測設備(bei)限(xian)公司結(jie)合市場上(shang)客戶需要,18年開(kai)發出探(tan)(tan)針(zhen)頂(ding)針(zhen)荷重阻(zu)抗(kang)行程(cheng)試(shi)驗(yan)機,19年開(kai)始(shi)(shi)量(liang)產并(bing)批量(liang)交付客戶使用(yong)。目前中國的(de)實體經(jing)濟由于用(yong)人(ren)成(cheng)本的(de)增加(jia),加(jia)上(shang)人(ren)員難(nan)招難(nan)管理,已經(jing)開(kai)始(shi)(shi)慢慢向(xiang)自動化或半自動化方向(xiang)發展。自動化的(de)程(cheng)度提高,在(zai)檢測方面會使用(yong)到大(da)量(liang)的(de)頂(ding)針(zhen)探(tan)(tan)針(zhen)以(yi)測試(shi)電(dian)子設備(bei)的(de)一些性能指標。所(suo)以(yi)對頂(ding)針(zhen)探(tan)(tan)針(zhen)的(de)一些測試(shi)指標就有所(suo)要求。

此(ci)款(kuan)試驗(yan)機為測(ce)試頂(ding)針探針量身定(ding)制,頂(ding)針和探針力(li)值、行程、接(jie)觸(chu)電阻為三個主要測(ce)試指標。我司此(ci)款(kuan)機器可以同時測(ce)試頂(ding)針的荷重-位移-電阻曲線。通過電腦設定儲存數據,是一款很好的頂針探針試驗機器。在測試頭與底部測試夾具都需要精細處理,以便能保證測試細小的接觸電阻。對于一版有多個探針(頂針)的產品,我司可以實現全自動測試,對于細小頂針的測試我司也有豐富的經驗